г. Москва
Кафедра дерматовенерологии и косметологии Медицинского института
РОССИЙСКОГО УНИВЕРСИТЕТА ДРУЖБЫ НАРОДОВ (РУДН)
приглашает Вас на обучение по программе повышения квалификации
Даты проведения в 2022 году: 18 - 20 апреля, 12 - 14 сентября, 21 - 23 ноября.
Приглашаются врачи-дерматовенерологи, врачи-косметологи, пластические хирурги.
Продолжительность обучения: 18 часов (3 дня).
Стоимость обучения: 3 000 руб.
Форма обучения: очно-заочная с применением дистанционных технологий.
Выпускной документ: Удостоверение о повышении квалификации.
Цель обучения: Совершенствование профессиональных компетенций по специальностям "Дерматовенерология" и "Косметология".
Программа позволяет обеспечить клиническую подготовку врача, приобретение им специальных теоретических знаний и практических навыков применения дерматоскопии меланоцитарных опухолей кожи.
Практическая часть программы проходит на кафедре дерматовенерологии
и косметологии ФНМО МИ РУДН в виде стажировки и мастер классов с освоением навыков проведения местной анестезии, дифференциальной диагностики и удаления новообразований кожи, методов взятия патологического материала от больных, гемостаза и наложения асептических повязок.
Содержание программы:
Тема 1. Организация деятельности кабинета и оборудование для проведения дерматоскопии меланоцитарных опухолей кожи.
Тема 2. Доброкачественные меланоцитарные опухоли кожи.
Тема 3. Меланоцитарные предраки кожи и слизистых оболочек.
Тема 4. Меланома кожи.
Тема 5. Дерматоскопия меланоцитарных опухолей кожи.
Перечень документов для зачисления на обучение:
Помимо копий, предоставляются оригиналы документов, либо нотариально заверенные копии (для сверки).
Заявку для записи на цикл оставьте на сайте: https://fnmo.rudn.ru/programs/dermatoskopiya-melanotsitarnykh-opukholey-kozhi/ - нажмите кнопку "Предварительная запись на программу".
Примечание: для исключения возможных ошибок и уточнения актуальной информации настоятельно рекомендуем обращаться на официальные вебсайты курсов и к кураторам/менеджерам по указанным телефонам и электронным адресам.
Copyright © 2008 Все права защищены